Temp. & Humidity Chamber (항온항습시험기)
절전형 인공지능 시스템 장착, 넓은 영역의 온·습도 정확하게 제어
항온항습기는 특정온도, 습도를 일정 공간 내에 형성시키는 기기로써 이러한 조건으로 실험하는 화학 실험, 동·식물 성장 TEST, 제약. 식품업계의 미생물 성장 실험 등에 쓰이며 전자제품 및 부품 그리고 기계. 자동화 제품 및 광 소재 부품의 내후성, 신뢰성 TEST용으로, 특정온도, 습도, 설정에 따른 모의 TEST용으로도 많이 쓰이는 등 현대의 산업 전분야에 있어서 생산품의 내구성, 신뢰성 실험에 필수적 장비이다. 지구상의 기후면 어떠한 곳도 그와 같은 온도 및 습도를 구현하여야 하며, 경우에 따라서는 필요한 조건이상의 과도한 기후상태를 형성시켜 일정시간 시험함으로써, 정상적인 조건에서의 내구성을 예측하는데 사용된다.
온도와 습도의 상태를 구현하기 위해서는 기기실내에 가온, 냉각, 제습, 가습 등을 수행하는 요소와 기기실내의 온도,습도의 분포상태를 일정하게 하는 요소와 조절기능의 요소 등이 조화롭게 구성되어져야 한다.
제이오텍에서 개발한 BDBC2-FCS(Balanced Dehumidifying and Bath Cooling Fuzzy Control System)를 내장하여 기기 스스로 온습도 조절을 위한 최적상태를 인식하고, 기기의 각 부분이 적은 에너지로 가습 히터와 제습장치를 운전시킨다. 저온저습상태의 제습은 챔버내의 가습조의 물을 냉각시킴으로 자연증발에 필요한 증발에너지를 잃게 하고, 저온에서의 가습조절은 포화수증기압이 아주 작으므로 작은 용량의 히터로 가습조절을 하는 첨단의 항온항습 기술로 이러한 기능을 컨트롤러에 내장시켰다. 이 시스템으로 저온 초저습 운전이 가능하며 다른 어떤 제품보다 온·습도 제어영역이 넓다.
이 제품은 기기 스스로 온습도 조절을 위한 최적 상태를 인식하고, 기기의 각 부분이 적은 에너지로 가습히터와 제습장치를 운전 시키는 절전형 항온항습기이다.
성에는 기기의 후면 벽 부위에 위치한 냉각 장치 중에서 제습용 증발관에만 발생하여 공기의 순환에 장애를 주지 않으며 일정 두께 이상이 되면 성에 표면에 순환하는 공기로부터 받는 에너지와 제습용 증발관으로부터 전달되는 흡열 에너지가 평형을 이루어 더이상 성장하지 않는다. 따라서 챔버의 온도는 항상 안정되고 운전중 또는 정기적인 성에 제거작업이 필요 없다.
일반형 항온항습기는 SUS 재질의 외부 판넬을 사용하여 산화와 부식에 강한 특성을 갖는데, 청결한 상태로 유지 할 수 있음은 물론 청소 시에도 적은 물수건과 마른 수건으로 간편하게 세척이 가능하다. 슬림형·테이블탑 항온항습기는 백색과 페르시안 블루 색상으로 도장 처리하여 수려한 미관을 자랑한다.
항온항습기 전 제품은 대인 또는 사물과의 접촉 시 안전하도록 제품의 모서리를 곡면 처리하여 안전하게 제품을 사용 할 수 있다.
특히 기존의 냉매로 사용되던 CFC화합물 대신 CFC-22, HCFC141b / 142b, HFC -134a / 125/ 152a / 32 를 비롯한 환경 친화적 냉매를 사용하고 있다.
또한 상대습도에 따라 전기적인 물리량이 일정하게 변화하는 소재로 제작된 전자 습도 센서를 사용해 데이터가 정확하고 응답속도가 매우 빠르며 내구성 또한 뛰어나다. 전자 센서는 전통적인 건구, 습구 센서 장치처럼 센서의 측정치를 Psychometric table(건구와 습구의 온도 차이로 상대습도를 읽을 수 있도록 계산된 표)에서 환산하는 복잡성이나 습구의 정기적인 청소관리가 불필요하다는 점에서도 우수하다.
NI LabVIEW
프로그래밍 언어의 순서도화
컴퓨터 기반 기술의 진보는 자연히 소프트웨어 기술의 발전을 부추겼다. 하지만, 고급한 산업 어플리케이션 및 실험을 프로그래밍 할 수 있는 소프트웨어의 문턱은 낮아지지 않았다. 1986년 컴퓨터 기반 계측 및 자동화 솔루션을 제공하는 내쇼날인스트루먼트는 일반 엔지니어 및 과학도가 과중한 시간 투자 없이도 쉽게 습득할 수 있는 새로운 패러다임의 프로그래밍 언어인 NI LabVIEW를 개발했다.
NI LabVIEW는 엔지니어라면 매우 친숙할 수 밖에 없는 순서도 작성과정을 프로그래밍 기법으로 활용해 복잡한 텍스트 언어를 숙지해야 했던 엔지니어 및 과학도의 코딩 부담을 감소시키고 어플리케이션 질적 향상을 불러왔다. 다른 텍스트 기반의 언어들, 예를 들어 ANSI C나 Basic과 비교하면 사용자 인터페이스뿐만 아니라 소스 코드까지 그래픽컬 한 프로그래밍 요소(아이콘화된 함수, 그림으로 표현되는 문법 구조, 전기회로의 전선을 연상시키는 데이터 전달 와이어)가 투입되는 점이 특징이다. 최초 출시 후 30년이 지난 지금의 NI LabVIEW는 완벽한 한글 개발환경까지 제공하므로 폭넓은 국내 사용자층을 확보하고 있다.
NI LabVIEW는 그래픽컬 한 아이콘 모양의 함수들을 블록다이어그램이라고 불리는 프로그래밍 환경 위에 위치시키고 실행 순서대로 이들 함수들을 연결(와이어링)시킨다. 순서도와 유사한 형태로 소스 코드가 완성되므로 프로그래밍 경험이 적은 엔지니어라도 쉽게 코딩을 수행할 수 있고 누구나 직관적으로 소스 코드를 이해할 수 있다. 아이콘 모양의 함수는 데이터 수집, 데이터 시뮬레이션, 하드웨어 간 데이터 전송, 산술 연산, 필터링, 고급 분석 등의 고유 업무를 수행한다. 일반적인 텍스트 언어에는 IF문, While문, Case문 등의 조건문이 존재하듯이 NI LabVIEW에도 그림의 형태를 갖는 IF 구조, While 구조, Case 구조 등이 존재한다.
NI LabVIEW는 일반 텍스트 프로그래밍으로 구현할 수 있는 어떠한 어플리케이션도 가능하다. 특히, 계측 자동화 및 자동제어 어플리케이션 등 다양한 하드웨어 연동이 요구되는 분야에서 매우 유용하다. 데이터 로깅 및 신호 컨디셔닝, 계측기 제어, 제품 설계 및 프로토타이핑, 임베디드 시스템 프로그래밍, DSP 및 FPGA 프로그래밍, 머신비전, 모션 제어 분야 등이 좋은 예다.
NI LabVIEW는 임베디드 시스템의 설계, 프로토타이핑, 배포(Deploy) 단계를 단일 소프트웨어 툴 체인에 통합시킴으로써 임베디드 처리 장치의 개발을 가속화한다. 최신 NI LabVIEW FPGA(Field Programmable Gate Array) Module은 복잡한 알고리즘을 맞춤형 I/O 하드웨어에 로직화시킬 수 있는 기능을 업그레이드 했다. 즉, NI LabVIEW와 FPGA를 내장한 NI 임베디드 장치는 고속 제어 시스템을 프로토타이핑 할 수 있다. 또한 NI LabVIEW Embedded Development Module의 크로스 컴파일 기술을 이용해 32비트 MCU/DSP 칩 레벨의 프로그래밍에서도 NI LabVIEW의 그래픽 기반 프로그래밍 기법을 사용할 수 있다.
NI CompactRIO는 재구성이 가능한 FPGA 로직 블록을 리얼타임 프로세서 및 모듈형 주변기기 I/O와 결합시킨 고속 프로토타이핑 플랫폼이다. 리얼타임 OS 하에 동작하는 부동 소수점 프로세서에서는 NI LabVIEW에 내장된 고급 분석 라이브러리 및 다이나믹 시뮬레이션 모델을 수행할 수 있다. NI LabVIEW FPGA를 이용해 재구성이 가능한 FPGA 로직 블록을 사용자 정의함으로써 개발자는 이제까지 보드 레벨에서부터 구현할 수 밖에 없었던 맞춤형 하드웨어에서 얻을 수 있는 I/O 및 신호 처리 작업을 수행할 수 있다.
FPGA 기술은 사용자 정의 I/O 타이밍 및 동기화, 최대 20MHz의 빠른 제어 루프 속도, 하드웨어 레벨의 빠르고 정확한 디지털 신호처리 및 분석 속도를 제공한다. NI CompactRIO의 컨트롤러는 정보 처리 기능을 가진 리얼타임 프로세서를 내장하며 호스트 컴퓨터 및 주변기기와의 연결을 위해 이더넷과 시리얼 포트도 포함한다. 그리고 NI LabVIEW Real-Time 소프트웨어를 이용하여 제어, 데이터 로깅 및 분석을 수행할 수 있다. NI CompactRIO 컨트롤러의 9 ~ 35V 이중 전원 공급 장치 입력으로 차량 배터리에서 직접 전원을 공급할 수도 있다.
대우 일렉트로닉스는 세계 최초로 MPEG 동영상 재생 회전디스크 홀로그래픽 저장장치의 써보 컨트롤 시스템의 프로토타입 개발을 위해 그래픽 기반 프로그래밍 기술을 제공한 NI LabVIEW와 프로토타입 개발 플랫폼인 NI CompactRIO가 사용됐다.
오하우스코리아의 초정밀 전자저울 ‘Discovery·Explorer Pro’, 제이오텍의 ‘Temp. & Humidity Chamber(항온항습시험기)’, 한국내쇼날인스트루트먼트의 ‘NI LabVIEW’, KLA-Tencor의 ‘차세대 전자빔 검사 시스템’, 텍트로닉스의 ‘멀티 포맷 파형 모니터’, 애질런트테크놀로지스의 ‘LXI Class C 계측기’ 등이 각각 소개된다.
특히 키슬리 인스트루먼츠의 반도체 소자 특성 분석 시스템은 최근 새롭게 공표된 IEEE(미국전기전자기술자학회) 탄소 나노튜브의 전기적 실험 표준을 지원함으로써 향후 탄소 나노튜브의 전기적 특성 평가를 위한 테스트 및 데이터 보고 절차가 하나의 통일된 공통 기반 위에서 이뤄질 수 있게 됐다는 평가다. <편집자 주>
모델 4200 반도체 소자 특성 분석 시스템
최신 IEEE 탄소 나노튜브 테스트 표준 지원
첨단 전기 테스트 측정 솔루션의 선두주자 키슬리 인스트루먼츠 한국지사(대표 양웅모)가 자사의 모델 4200 반도체 소자 특성 분석 시스템이 새롭게 공표된 IEEE(미국전기전자기술자학회) 탄소 나노튜브의 전기적 실험 표준을 지원한다고 발표했다. IEEE는 최근 ‘탄소 나노튜브의 전기적 특성 측정에 대한 표준 기법’으로 알려진 IEEE 1650TM-2005 표준을 통과시켰다. 새로운 표준안이 승인됨에 따라 향후 탄소 나노튜브의 전기적 특성 평가를 위한 테스트 및 데이터 보고 절차가 하나의 통일된 공통 기반 위에서 이뤄질 수 있게 됐다. 모델 4200은 나노기술 소재 연구개발자들을 위한 핵심 측정 플랫폼이다.
탄소 나노튜브는 나노재료 연구 분야에서 관심의 초점이 되고 있는 튜브 형태의 구조체를 말하는데, 이는 나노 단위의 저전력 전자 기기를 만드는데 필요한 다양한 특성을 제공한다는 점에서 많은 관심을 얻고 있다. 나노튜브는 어플리케이션에 따라 생물학·화학 센서나 개별 원자의 운송체로도 활용될 수 있다.
키슬리 인스트루먼츠는 탄소 나노튜브 측정 시 인위적 측정 작업과 측정의 오류를 발생시킬 수 있는 다른 소스들로부터의 영향을 최소화하거나 원인 분석을 할 수 있도록, IEEE 표준 위원회에 나노튜브의 전기적 측정과 관련한 다양한 테스트 장비의 권고안 및 측정 사례를 제공한 바 있다고 밝혔다. 새로운 테스트 표준은 실험실 연구자들과 실험실 연구 결과를 양산라인에 적용하려는 설계 엔지니어들간에 일관성을 제공함으로써 나노튜브 상용화를 앞당길 수 있을 것으로 기대된다. 새로운 표준에 명시된 측정 데이터 보고 권고안에는 전기적 저항성, 전도성, 캐리어 이동성, 그리고 비선형적 동작(non-linear behavior) 등이 포함되어 있다.
업계, 학계 및 정부기관를 대표하여 테스트 및 계측 그리고 탄소 나노튜브 부문의 핵심적인 국제 저명 인사들이 IEEE 위원회에 참석한 가운데, 표준 위원회 간사이자 키슬리 출석 대표인 조나단 터커는 “새로운 표준안은 다른 여러 산업과 더불어 반도체 업계에서 나노단위 소자와 전자 장비 상용화 촉진에 큰 도움이 될 것”이라며 “탄소 나노튜브 구매자들은 이제 구매 제품의 전기적 특성과 품질에 관해 공급업체들과 동일한 언어로 이야기할 수 있게 되는 셈”이라고 말했다.
나노기술은 전기, 소재공학, 생명공학, 대체 에너지원 그리고 기타 여러 응용 분야에서 상당한 기술적 발전에 기여할 수 있는 새롭고도 중요한 연구 분야이다. 키슬리 인스트루먼츠는 나노기술용 전기 계측 솔루션 개발 부문 선도 업체로서, 나노 기술에 필요한 초미세 전류 및 전압 측정은 키슬리가 60년 동안 역량을 개척해 온 분야이다.
차별화된 성능을 자랑하는 키슬리 계측 장비를 이용하여 나노기술 연구자들은 이제 불과 몇 년 전만 해도 불가능했던 부분들을 관찰할 수 있게 되었다.
많은 나노기술 연구자들이 키슬리를 관련 연구분야의 핵심 지원업체로 꼽고 있다. 이들은 나노차원의 비밀을 풀고, 더 나아가 실험실에서 얻은 나노기술의 성과를 제품 상용화로까지 연결시킬 수 있는 키슬리의 계측 전문 지식과 노하우를 높이 평가하고 있다.
모델 4200은 최대 8개의 소스측정 유닛을 통해 연구소 수준의 DC 및 펄스 디바이스 특성화 기능을 제공하며, 이 외에도 실시간 플로팅, 그리고 고정밀 및 서브펨토앰프 분해능의 분석 기능 등을 지원한다.
초정밀 전자저울 Discovery-Explorer Pro
전자기반발 방식 채용 십만분의 일 그램까지 측정 가능
질량측정 분야에서 이름만으로도 신뢰와 존경을 받는 ‘작지만 강한’ 글로벌 기업 오하우스가 0.000001g(십만분의 일 그램)까지 측정 가능한 최신예 분석용 전자저울 AP보다 한층 기능이 업그레이드된 ‘디스커버리(Discovery)’와 ‘익스플러러 프로(Explorer Pro)’를 출시한다.
저울의 한계가 무엇인지 보여주는 이 제품의 특징은 단순히 중량만 표시를 하는 저울의 역할도 가지고 있지만 컴퓨터와 연결하여 각종 실험이나 업무에 맞는 제어와 출력을 담당하며 살아 움직이는 동물의 무게 등을 자동으로 산출하여 질량 값을 계산한다.
또한 정밀 배합공식을 저장하여 활용할 수 있으며, 퍼센트 및 총 중량의 계산기능이나 GLP 인증의 데이터 출력도 가능하다. 특히 최근 연구개발에 점점 그 역할이 증대되어가는 정밀 피펫(Pipette)의 정확도를 자동 조정해주는 기능이 첨가되어 있다.
이와 같이 전자기반발 방식의 초정밀 저울은 전세계에서 손에 꼽을 정도의 기업만이 생산할 수 있다.
이해하기 쉽게 예를 들자면 우리가 흔히 먹는 감기약 캡슐 안에 입자 한 조각을 100 혹은 1000개로 쪼개어 그 무게 값을 표시하는 저울이라 생각하면 된다.
실험실의 또 다른 발견이나 주목할 신인이 될 오하우스의 디스커버리 시리즈는 오하우스 코리아를 통해 국내 대학, 연구소, 정부 및 기업체 연구실에 6월 이후 출시될 예정이다.
실험실의 표준이 된 오하우스의 익스플러러 프로 시리즈는 기존의 다른 전자저울들과는 달리 사용자 편의성에 초점을 두어 설계됐다.
이 제품은 저울사용의 숙달과정 없이도 누구든지 쉽게 사용할 수 있도록 손쉬운 셋업과 작동을 위한 선구적인 사용자 인터페이스를 구축했다.
오하우스의 익스플로러 프로 시리즈는 고정밀 실험용 저울에 맞는 견고성과 특징들은 물론 전통적인 오하우스 코리아의 장기적인 서비스로 사용자의 큰 호응을 얻고 있다.
제품명 : Ohaus Discovery
모델명 : DV215D
기본사양 : 0-81g x 0.01mg 82-210g x0.1mg
주요특징 :RS232통신케이블, LCD표시창, 사용자편의제어프로그램, 분동내장형, 단순중량, 수량카운트기능, 백분율 표시기능,체크웨이어기능, 동물계량기능, GNT 측정기능, 질량합산기능, 고점 표시기능, 비중측정기능, 통계기능, 피펫 보정기능
가격 : $4,500
제품명 : Ohaus Discovery
모델명 : DV114
기본사양 :110g x 0.1mg
주요특징 :RS232통신케이블, LCD표시창, 사용자편의제어프로그램, 분동내장형, 단순중량, 수량카운트기능, 백분율 표시기능,체크웨이어기능, 동물계량기능, GNT 측정기능, 질량합산기능, 고점 표시기능, 비중측정기능, 통계기능, 피펫 보정기능
가격 :$3,300
제품명 : Ohaus Discovery
모델명 : DV214
기본사양 :210g x 0.1mg
주요특징 :RS232통신케이블, LCD표시창, 사용자편의제어프로그램, 분동내장형, 단순중량, 수량카운트기능, 백분율 표시기능,체크웨이어기능, 동물계량기능, GNT 측정기능, 질량합산기능, 고점 표시기능, 비중측정기능, 통계기능, 피펫 보정기능
가격 : $3,500
제품명 :Ohaus Discovery
모델명 : DV314
기본사양 : 310g x 0.1mg
주요특징 :RS232통신케이블, LCD표시창, 사용자편의제어프로그램, 분동내장형, 단순중량, 수량카운트기능, 백분율 표시기능,체크웨이어기능, 동물계량기능, GNT 측정기능, 질량합산기능, 고점 표시기능, 비중측정기능, 통계기능, 피펫 보정기능
가격 : $4,100
차세대 전자빔 검사 시스템
65nm 및 소형 노드에서의 트랜지스터 개발 가속화
KLA-Tencor(지사장 홍완철)가 65 및 45nm 노드에서의 트랜지스터 개발을 가속화 할 수 있는 차세대 전자빔(E-Beam) 검사 시스템(제품명: eS32)을 개발, 전자빔 검사 플랫폼을 확장한다고 밝혔다.
다양한 전기적 및 물리적 결함을 검출할 수 있는 eS32를 통해 반도체 제조업체들은 여러 가지 새로운 물질과 디바이스 아키텍처를 양산에 적용할 수 있게 됐다. KLA-Tencor의 차세대 검사 솔루션 패키지의 초석인 eS32는 차세대 반도체 소자들의 FEOL(front-end-of-line) 및 BEOL(back-end-of-line) 공정에서 수율에 치명적인 영향을 끼칠 수 있는 구조적 결함을 검사하고 신속히 해결, 검사 장비의 새로운 표준을 제시한다.
KLA-Tencor의 기존 제품인 eS30과 eS31은 130nm 및 90nm의 공정 기술이 이용되는 BEOL의 구리 공정 문제를 해결하는데 큰 기여를 했으며, S32는 65nm 및 차세대 공정의 난관을 해결해 준다.
eS32는 입증된 BEOL 솔루션을 제공할 뿐만 아니라 다양한 이미징 조건을 이용할 수 있어 갈수록 증가하고 있는 FEOL 에서의 결함들을 검출할 수 있다. 따라서 전자빔 검사를 통한 신속한 피드백을 이용해 로직 반도체 제조업체들은 NiSi(nickel silicide)와 스트레인드(strained) 실리콘 기반의 디바이스에서 발생하는 FEOL 문제를 신속하게 확인하고 해결할 수 있다. 더욱이 eS32는 디바이스의 동작 속도와 전력 소비 개선 시 발생할 수 있는 공정 문제들을 검출할 수 있도록 설계됐다.
DRAM 제조 업체들은 제품 사용 주기의 단축화 문제로 인해 양산에 새로운 공정기술을 적용할 때 조기 수율 향상에 총력을 기울이고 있다. 이들 제조업체들은 반도체 소자의 사이즈가 점점 작아짐에 따라 FEOL 공정과 배선 연결 공정 과정에서 새로운 문제에 직면하게 되었다. 바로 종횡비가 높은 접촉(contact) 및 커패시터 공정검사와 수율에 영향을 미치는 미세한 물리적 결함을 검사하고 이에 대한 해결책을 찾아야 한다는 것이다. eS32는 DRAM 제조 업체에 영향을 주는 이러한 치명적인 공정 결함을 바로 확인할 수 있게 도와 준다.
KLA-Tencor의 웨이퍼 검사 그룹의 마이크 커크 부사장은 “KLA-Tencor는 고객과의 긴밀한 협력을 통해 얻은 지식과 다양한 애플리케이션 전문가를 통해 고객이 성공적인 혁신을 거두고 경쟁력을 갖출 수 있도록 최첨단 솔루션 개발에 최선을 다하고 있다. eS32는 기존 세대의 전자빔 검사장비를 통해 축적한 기술력을 바탕으로 고객들의 성공을 확신시켜 줄 것”이라고 언급했다.
eS32는 물리적 및 전적 감도가 대폭 향상되어 보다 빨리 공정 문제의 원인을 파악할 수 있다. 이 제품은 미세한 접촉 식각 결함에 대한 검출 기능을 향상시키기 위해 랜딩 에너지(landing energy) 범위를 확장했다. 새로운 빔 전류 및 스캐닝 유연성 옵션은 저항성이 높은 재료에도 이용할 수 있으며, NiSi 및 스트레인드 실리콘 통합과 관련된 미미한 숨겨진 결함들을 포착할 수 있도록 설계되었다.
또한, 크기가 매우 작은 픽셀을 추가함으로써 종횡비가 높은 고밀도 구조에서 미세한 물리적 결함을 포착하는 기능이 더욱 향상되었다. eS32는 최첨단 결함분류(binning) 알고리즘이 적용되어 결함 원인 분석, 확인 및 새로운 시스템 결함 문제를 신속히 해결할 수 있다. eS32는 또한 KLA-Tencor 고유의 MicroLoop™ 방식을 지원함으로써 수율을 50%나 향상시킬 수 있는 것으로 입증됐다.
지속적인 개선 작업을 통해 경비 절감에 초점을 두고 있는 검증된 제품 플랫폼의 일부인 eS32는 뛰어난 속도와 저비용을 제공하므로 반도체 제조 업체는 제조 라인을 보다 효율적으로 감시할 수 있다.
이미징 조건의 자동 교정 등 기능의 편의성을 높임으로써 제조 공정에 시스템이 아무런 문제 없이 곧바로 적용될 수 있다. 이에따라 공정 관리 엔지니어는 장비설치 또는 최적화 문제에 들이는 시간을 줄이고, 대신 애플리케이션 구현 및 개발에 더욱줄일 수 있다.
멀티 포맷 파형 모니터
신속·안전·편리한 컨텐츠 모니터링 측정 가능
오늘날 디지털 비디오 시스템으로 작업하는 운영 단체 및 엔지니어링 전문가는 시스템 품질 저하 문제가 발생하기 전에 문제점을 포착할 수 있어야 하고, 품질이나 안정성 장애를 신속하게 진단해 복구할 수 있어야 하며, 시스템 설치 및 유지의 생산성을 향상시킬 수 있어야 한다. 이러한 목적을 이루기 위해 점점 복잡해지고 다양해지는 비디오 컨텐츠를 효율적으로 철저히 여러 포맷으로 모니터하고 측정할 수 있는 도구가 필요하다.
이번에 새로 출시된 텍트로닉스 WFM6100, WFM7000, WFM7100 파형 모니터는 장비 작동과 구성을 간소화하고, 서로 다른 작업 실무와 실무 담당자의 경험을 적절하게 조정하여, 대량의 복잡한 비디오와 오디오 데이터를 쉽게 확인·조작·전송하는 등의 우수한 기능을 제공한다.
이 제품은 고성능 아이 다이어그램 디스플레이, 지터 및 기타 SDI 신호 파라미터 측정, 비디오, 오디오, 부속 데이터의 심층 분석 외에 디지털 비디오 데이터의 전체 프레임을 포착하여 저장할 수 있는 독특한 캡쳐뷰(CaptureVu™) 기능을 제공한다.
기존의 파형 모니터에서 쓰이던 화면에 디스플레이된 기록만 캡쳐하던 ‘고정(freeze)’ 캡쳐에 비해 캡쳐뷰에는 훨씬 많은 데이터 비교 및 분석 기능이 있다.
WFM6100 및 WFM7100는 다른 장비의 데이터 포착 크기를 훨씬 능가하여 원래 비디오 데이터의 전체 프레임을 포착하여 저장할 수 있다. 사용자가 데이터 캡쳐를 수동으로 시작하거나 트리거 조건을 설정해두면 전 범위 오류, 오류 탐지 처리(EDH) 장애 조건, 주기적 중복 코딩(CRC) 데이터에서 발생하는 오류 등과 같은 특정 이벤트 발생 시 장비가 자동으로 데이터를 포착할 수 있다.
자동 트리거 캡쳐는 간헐적 오류 발견과 직원이 없는 원거리 지역의 장애 상태에 관한 데이터 캡쳐에 특히 유용하다.
디지털 비디오 데이터의 전체 프레임을 캡쳐해 저장하면, 장비는 캡쳐 프레임에서 데이터를 계속 디스플레이할 수 있으므로 다양한 디스플레이와 포맷으로 조회, 측정, 완전 분석할 수 있다. ‘고정’ 캡쳐와 달리 사용자는 한 종류의 디스플레이(ex, 파형 디스플레이)로 캡쳐된 데이터를 보고 이를 라이브 신호와 비교하여, 다른 디스플레이(ex, 그림 또는 전역 디스플레이)로 변경해서, 동일한 라이브 캡쳐 방식으로 비교할 수 있다. 라인 선택 모드에서 사용자는 캡쳐된 비디오 프레임의 각 라인을 개별적으로 검사할 수 있다.
캡쳐된 비디오 데이터는 USB 메모리 스틱에 저장하여 호출할 수 있고, 랩탑이나 PC로 전송하여 더 철저히 분석할 수 있다. 사용자는 이 기능으로 한 장비(ex, 카메라)에서 한 프레임의 비디오 신호를 캡쳐하여 이를 비디오 특성 조절 목적으로 다른 장비를 구성하는 데 참고할 수 있다.
WFM6100 및 WFM7100 파형 모니터는 캡쳐뷰 기능을 다양한 신호 및 컨텐츠 파라미터의 광범위한 모니터링, 유연하고 사용자가 설정가능한 경보 작동 기능과 결합하여 중대한 컨텐츠 오류를 놓칠 가능성을 줄여준다. 나아가 장비의 고성능 모니터링과 계측 기능이 조화되어 비디오 장비를 확인, 설치, 구성하거나 품질 및 안정성 문제를 진단하는 데 필요한 시간과 노력이 절약된다.
이와 같은 유용한 기능을 통해 컨텐츠 제작과 확인 과정에서 생산성이 개선되고, 장비 설치, 모니터링, 문제 진단에 있어서 시간과 노력이 절감되므로 비디오 관련 기술과 경험이 다르고 기술적 환경이 아무리 복잡해도 염려할 필요가 없다. 매우 유연한 맞춤형 사용자 인터페이스를 지닌 WFM6100, WFM7000, WFM7100는 혼합 포맷 비디오 제작, 유통, 방송 시스템에서 비디오, 오디오의 모니터링이나 측정에 관한 업계 최고의 솔루션이다.
LXI Class C 계측기
스위칭·시스템 제어기능… 저렴한 원격 솔루션 제공
애질런트테크놀로지스는 스위칭 및 제어를 위한 1U, 하프랙 계측기 폼 팩터로 업계 최초의 LXI 장치인 7개의 신형 LXI Class C 계측기를 출시했다.
애질런트 L4400 시리즈의 스위칭 및 시스템 제어 계측기는 어플리케이션이 필요한 어느 위치에나 장착할 수 있는 업계 표준 소형 계측기이다. 전자제품, 자동차, 항공우주·방위, 통신, 의료 및 컴퓨터 산업에서 설계 검증 및 기능 테스트 시스템을 구축하는 엔지니어는 이 장치의 원격 기능 및 그래픽 웹 인터페이스를 통해 셋업 및 문제해결 시간을 단축할 수 있다.
이 다기능의 고성능 LXI 계측기를 통해 엔지니어는 어플리케이션 및 예산을 테스트 요구에 맞출 수 있으며, L4400은 새 플랫폼에 대한 막대한 투자 없이도 34980A 및 다른 기존 LXI 계측기로부터 쉬운 마이그레이션 경로를 지원한다. L4400은 또한 하드웨어 및 소프트웨어에서 업계 표준 기반 개방형 연결을 보장하는 프로그램인 Agilent Open의 일환이다.
LXI Consortium 대표인 밥 레날드는 “애질런트 L4400 시리즈는 애질런트가 LXI 회원사로부터 기대한 많은 ‘LXI 장치’ 제품 중 첫 제품”이라고 말하면서 “L4400 시리즈는 분산 테스트 시스템에 꼭 맞는 1U, 하프 랙의 소형 페이스리스(faceless) 계측기로, 또한 그 단순성, 저렴한 비용 및 작은 풋프린트 이외에도 LXI 기능은 통합 사업자가 시스템 셋업 시간을 줄일 수 있게 해준다”라고 말했다.
애질런트 L4400 시리즈 계측기는 엔지니어가 필요한 제품만 구입하고 어플리케이션 변경이 필요할 때 제품을 쉽게 추가할 수 있게 해주는 고성능 계측기이다.
이더넷 인터페이스는 전체 엔지니어링 그룹에서 액세스가 가능하도록 PC 또는 네트워크에 대한 단순한 연결을 지원한다.
완전 기능 그래픽 웹 인터페이스는 LXI 표준을 능가하며 표준 웹 브라우저를 통해 계측기를 완전 제어할 수 있다. 예를 들어, 엔지니어는 이더넷 연결 및 이 장치의 그래픽 웹 인터페이스를 사용하여 네트워크 상에 어디서나 계측기에 원격 액세스하여 제어할 수 있다. 이로써 엔지니어는 테스트 셋업을 모니터링하고 스위치를 개폐 및 스캔하며 버스를 통과한 명령을 보면서 표준 웹 브라우저를 통해 어플리케이션의 문제를 해결할 수 있다.
주요 용어설명
Agilent Open은 테스트 시스템 하드웨어, I/O 및 소프트웨어 툴의 다기능 조합이다. Agilent Open은 측정, 연결 및 프로그래밍에 대한 다양한 선택권을 부여함으로써 개선 및 유지가 간편한 간소화된 테스트 시스템 구축을 가속화한다. 이런 이점을 활용하여 엔지니어링 팀은 가장 중요한 현안 즉, 제품의 성능, 신뢰성 및 제공에 더 많은 시간을 주력할 수 있다.
LXI는 최고의 테스트 및 측정 기업으로 구성된 비영리 조직인 LXI Consortium에서 관리하는 자동 테스트 시스템에 대한 차세대 LAN 기반 모듈러 아키텍처 표준이다. 이 Consortium은
LXI 표준의 개발, 지원 및 증진을 목표로 하고 있다. LXI의 유연한 컴팩트 패키지, 고속 I/O 및 LAN의 다기능은 광범위한 산업용 및 상업용 어플리케이션을 해결하는 것은 물론 레이더, 전자전, 위성 및 군사용 통신 시스템을 개발하는 항공우주·방위 엔지니어의 요구를 충족시킨다.`
< 저작권자 ⓒ 서울경제, 무단 전재 및 재배포 금지 >
