이번에 취득한 특허는 지문센서가 생성하는 지문 이미지의 품질을 검사하는 방법으로 특징점의 분포 형태, 특징점이 분포로 인식되는 지문 영역의 크기, 특징점의 개수, 개별 특징점의 품질을 종합적으로 이용해 점수화할 수 있다. 회사 측은 “관련 기술을 활용해 다양한 지문 센서의 품질 및 성능을 수치화해 제공할 수 있다”며 “지문센서가 탑재된 제품을 생산하거나 생산계획이 있는 완성품 제조업체에서 제품을 분석하거나 평가할 때 활용 가능하다”고 설명했다.
/권용민기자 minizzang@sedaily.com
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